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老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法

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摘要

本发明公开了一种老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法。其中，老化测试电路包括：接口模块、开关模块和主控模块。接口模块用于与多个待测设备电连接，待测设备用于生成接入状态信号；主控模块的第三端口用于获取接入状态信号，主控模块用于根据接入状态信号生成读卡信号和切换信号；待测设备用于根据读卡信号生成测试信号，开关模块用于根据切换信号分别切换主控模块的第一端口与多个待测设备的连接状态，主控模块用于根据测试信号进行老化测试操作。本发明的老化测试电路能够同时连接多个待测设备以进行老化测试操作，简化了测试的操作流程，从而提高了测试效率。

著录项

  • 公开/公告号CN114660379A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市鸿陆技术有限公司;

    申请/专利号CN202210187762.1

  • 发明设计人 郝懿;

    申请日2022-02-28

  • 分类号G01R31/00;G01R1/04;

  • 代理机构广州嘉权专利商标事务所有限公司;

  • 代理人洪铭福

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区西丽留仙洞中山园路1001号TCL国际E城F5栋3B

  • 入库时间 2023-06-19 15:46:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-24

    公开

    发明专利申请公布

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