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老化测试电路、老化测试装置以及老化测试系统

摘要

本申请公开了一种老化测试电路、老化测试装置以及老化测试系统,通过循环控制模块,在第一时长内循环老化进程,老化进程包括持续第二时长输出第一导通信号和持续第三时长停止输出第一导通信号;开关模块在输入第一导通信号时转接电源电压;N个LED接收卡模块在输入电源电压时显示老化N个LED模组,以及当停止电源电压时断电老化N个LED模组;从而实现对N个LED模组在第一时长内进行循环第二时长的显示老化和第三时长的断电老化,使N个LED模组的老化测试过程与之实际通断电的真实使用场景相近,从而更好地在老化测试过程发现N个LED模组在真实使用时出现的元件不良问题。

著录项

  • 公开/公告号CN216350966U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-04-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 惠州市艾比森光电有限公司;

    申请/专利号CN202121213997.0

  • 申请日2021-06-01

  • 分类号G01R31/00;G01R31/44;B07C5/344;

  • 代理机构深圳中一联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人任敏

  • 地址 516000 广东省惠州市东江高新科技产业园东华南路3号

  • 入库时间 2022-08-23 06:15:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-19

    授权

    实用新型专利权授予

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