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基于量子统计的高精度光学成像装置与方法

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摘要

本发明公开了一种基于量子统计的光学成像装置，包括激光共聚焦显微装置(1)、单光子计数统计装置(2)和主控装置(3)，其中，激光共聚焦显微装置(1)用于激发样品并收集样品发射的荧光，并将该荧光导入所述单光子计数统计装置(2)；单光子计数统计装置(2)用于接收来自激光共聚焦显微装置(1)的荧光信号，产生多个单光子计数信号和多光子符合计数信号，并向主控装置(3)输出多个单光子计数信号和多光子符合计数信号；主控装置(3)分别连接于所述激光共聚焦显微装置(1)和单光子计数统计装置(2)，用于产生控制信号并分别输出给激光共聚焦显微装置(1)和单光子计数统计装置(2)，以控制激光共聚焦显微装置(1)的共聚焦扫描与单光子计数统计装置(2)的数据采集同步。本发明能提供相邻物体的高精度成像和分辨，其精度不受瑞利极限限制。

著录项

  • 公开/公告号CN102902056B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学技术大学;

    申请/专利号CN201210364582.2

  • 发明设计人 孙方稳;崔金明;郭光灿;

    申请日2012-09-25

  • 分类号G02B21/36(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人宋焰琴

  • 地址 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号

  • 入库时间 2022-08-23 09:25:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-27

    授权

    授权

  • 2013-03-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 21/36 申请日:20120925

    实质审查的生效

  • 2013-01-30

    公开

    公开

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