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在石英晶振测试系统中同时测量不同类型被测件的方法

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摘要

本发明公开了一种在石英晶振测试系统中同时测量不同类型被测件的方法，主要解决现有系统不能同时测量普通及高稳晶振被测件的问题。其实现步骤是：①在石英晶振测试系统测量前，根据提示输入不同类型被测件信息；②在石英晶振测试系统测量后，按每隔1小时时间间隔测量不同类型被测件的相对平均频率偏差；③依据JJG180-2002检定规程测量普通晶振被测件的性能，所有测量数据均为有效数据；④依据JJG181-2005检定规程测量高稳晶振被测件的性能，提取高稳晶振被测件测量数据的有效测量数据，获得所需要的有用的测量数据。本发明具有测量效率高和节省测量设备的优点，可用于对普通及高稳晶振被测件的同时测量。

著录项

  • 公开/公告号CN102914711B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-06-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国电子科技集团公司第二十研究所;

    申请/专利号CN201210388411.3

  • 发明设计人 黄河;

    申请日2012-10-12

  • 分类号G01R31/00(20060101);

  • 代理机构61205 陕西电子工业专利中心;

  • 代理人王品华

  • 地址 710068 陕西省西安市白沙路一号

  • 入库时间 2022-08-23 09:27:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-06-17

    授权

    授权

  • 2013-03-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20121012

    实质审查的生效

  • 2013-02-06

    公开

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