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用于高精度ADC测试中低分辨率信号源的选取方法

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本发明公开了一种用于高精度ADC测试中低分辨率信号源的选取方法，其通过对于同一分辨率的信号源，分析增加或减少采样点数对测试结果精确度的影响，并在此基础上建立采样点数同测试结果之间的关系模型，以及信号源的分辨率同测试结果精确度之间的关系。基于得到的关系模型，可以确定在给定测试对象和测试目的，进而实现在对高精度ADC进行快速测试、精确测试以及快速精确的低成本测试等目的时最佳信号源的选择，在保证测试结果的同时降低测试成本。

著录项

公开/公告号CN103529379B

专利类型发明专利
公开/公告日2016-01-20

原文格式PDF
申请/专利权人东南大学;
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申请/专利号CN201310278150.4
发明设计人黄成;李佑辉;
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申请日2013-07-04
分类号
代理机构苏州创元专利商标事务所有限公司;
代理人范晴
地址 215123 江苏省苏州市工业园区林泉街399号
入库时间 2022-08-23 09:34:39

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2016-01-20

授权

授权
2014-02-26

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/3167 申请日:20130704

实质审查的生效
2014-01-22

公开

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