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测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置与方法

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本发明公开了一种测量电光强度调制器啁啾参数频率响应特性的装置与方法，涉及光电子技术领域。可调谐激光器、偏振控制器、待测电光强度调制器、微波信号源、第一光连接器、第二光连接器、单模光纤、光功率计、光电探测器、微波功率计、数据采集卡、计算机；所述可调谐激光器、偏振控制器、待测电光强度调制器、第一光连接器、色散光纤组、第二光连接器、光电探测器之间依次光路连接；所述光电探测器、微波功率计、数据采集卡、计算机、微波信号源之间依次电路连接。本发明具有测量精度高、操作方便的优点，在光纤通信系统、电光强度调制器分析、光信号处理方面具有重要的应用前景。

著录项

公开/公告号CN103234735B

专利类型发明专利
公开/公告日2016-03-02

原文格式PDF
申请/专利权人电子科技大学;
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申请/专利号CN201310137527.4
发明设计人张尚剑;叶胜威;邹新海;张雅丽;刘永;
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申请日2013-04-19
分类号G01M11/02(20060101);
代理机构成都华风专利事务所(普通合伙);
代理人徐丰;杨保刚
地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
入库时间 2022-08-23 09:35:59

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2016-03-02

授权

授权
2013-09-04

实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20130419

实质审查的生效
2013-08-07

公开

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