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公开/公告号CN202523716U
专利类型实用新型
公开/公告日2012-11-07
原文格式PDF
申请/专利权人 大连理工大学;
申请/专利号CN201220083656.0
发明设计人 瞿学选;金秀梅;唐祯安;
申请日2012-03-07
分类号
代理机构大连星海专利事务所;
代理人花向阳
地址 116024 辽宁省大连市高新园区凌工路2号
入库时间 2022-08-21 23:36:30
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2014-04-30
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L29/739 授权公告日:20121107 终止日期:20130307 申请日:20120307
专利权的终止
2012-11-07
授权
机译: 半导体组件具有处于沟槽结构中的沟槽结构晶体管器件的栅电极区或栅区,并通过绝缘氧化物层与壁区电隔离
机译: 镧系氧化物/氧化锆原子层沉积的纳米层栅电介质
机译:镧系氧化物高K栅氧化物的电子结构
机译:0.18μm双栅互补金属氧化物半导体技术中不同布局的浅沟槽隔离引起的泄漏及其预防
机译:一种新的研究:石墨烯氧化物对水热法合成镧是基于镧系铁素体的镧系元素的形态,晶体结构,光学和电性能的影响
机译:在浅沟槽隔离的MOS结构的栅氧化物变薄
机译:镧镍氧化物电极上MOCVD衍生的钙钛矿铅锆(x)钛(1-x)氧(3)和铅(scan钽)(1-x)钛(x)氧(3)薄膜的微观结构和电性能缓冲硅
机译:用于高级CMOS器件的铝酸镧高介电常数栅氧化物的综合研究
机译:贫氧镧系氧化物硒化物M10OSe14的短系列,M = La–Nd
机译:稀土氧化物。 Ⅱ。镧系倍半氧化物,La2O3,LaO,YO和TaO离解能的汽化