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一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置

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摘要

本实用新型公开了一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置，包括装置主体与外部的壳体，装置主体内设置有一隔板，隔板上侧为样品室，隔板下侧为检测室，检测室内设置有光管、准直器、测试腔体、探测器及高压组件；光管设置于光管支架上，光管的上方设置有准直器，准直器与光管垂直设置，并设置于准直器座上，光管的上方还设置有准直器复位开关；测试腔体设置于光管的上方，且与探测器、光管连通，探测器设置于测试腔体的一侧，高压组件设置于光管的一端。本实用新型结构设计合理，结构简单，便于组装拆卸维修，监测方便安全，检出方便安全、灵活快捷、测量精度高、稳定性及重复性好，可以用于稻米中痕量元素的分析。

著录项

  • 公开/公告号CN205246574U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2016-05-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州三值精密仪器有限公司;

    申请/专利号CN201521128293.8

  • 发明设计人 杨振;杨剑;

    申请日2015-12-30

  • 分类号

  • 代理机构北京华夏博通专利事务所(普通合伙);

  • 代理人刘俊

  • 地址 江苏省苏州市吴中区金枫南路1258号B1幢

  • 入库时间 2022-08-22 01:22:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-05-18

    授权

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