公开/公告号CN208508942U
专利类型实用新型
公开/公告日2019-02-15
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉光迅科技股份有限公司;
申请/专利号CN201821418156.1
申请日2018-08-31
分类号
代理机构武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人胡琦旖
地址 430205 湖北省武汉市江夏区藏龙岛开发区潭湖路1号
入库时间 2022-08-22 08:11:36
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-02-15
授权
授权
机译: 用于测试半导体元件的测试板装置包括多个区域,使得基于要测试的半导体元件的特性将要测试的半导体元件布置在特定区域。
机译: 测试装置,附加电路和测试板,用于基于峰值电流进行判断
机译: 一种用于测试板料形状和裂纹的无接触诊断装置