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一种高双折射保偏光纤的模式双折射的测量装置

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摘要

本实用新型公开了一种高双折射保偏光纤的模式双折射的测量装置。装置中电光调制器将第一微波信号调制到光线上形成光载微波信号，光载微波信号经待测高双折射保偏光纤后形成两路光程差不同的光载微波信号，两路光程差不同的光载微波信号经光电探测器后输入至混频器的射频输入端，混频器将两路光程差不同的光载微波信号与第二微波信号混频后的中频信号经低通滤波器后的直流信号输入至数据采集电路，数据采集电路将直流信号不同幅值处的频率输入至计算机进行计算。本实用新型实现了高双折射保偏光纤的模式双折射精确测量的目的。

著录项

  • 公开/公告号CN211262664U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-08-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津博科光电科技有限公司;

    申请/专利号CN201821225664.8

  • 发明设计人 孟卓;朱佑强;赵保来;

    申请日2018-08-01

  • 分类号

  • 代理机构天津协众信创知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李京京

  • 地址 300393 天津市西青区西青汽车工业区中联产业园8号楼201

  • 入库时间 2022-08-22 15:59:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-14

    授权

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