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一种共存测试架构以及共存测试系统

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本申请实施例提供了一种共存测试架构以及共存测试系统，包括：屏蔽箱；参考天线，位于所述屏蔽箱的指定位置上；测试天线，可移动的设置于所述屏蔽箱上；所述屏蔽箱上标记有隔离度刻度；所述隔离度刻度表征该隔离度刻度对应的测试天线，位于该隔离度刻度对应的位置时，相对于所述参考天线的隔离度，且参考天线和测试天线位于屏蔽箱内。这样，在进行共存测试时，工程师即可根据需要，将测试的参考天线移动至所需的隔离度刻度对应的位置处，从而实现在进行共存测试时，控制两天线的隔离度，进而模拟出耦合情况下不同隔离度下共存测试的场景，提高测试效果。

著录项

  • 公开/公告号CN214067229U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-08-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 合肥移瑞通信技术有限公司;

    申请/专利号CN202120090693.3

  • 发明设计人 周洪;张成;张祥;郑雷;

    申请日2021-01-13

  • 分类号G01R1/04(20060101);G01R1/18(20060101);G01R29/08(20060101);G01R29/10(20060101);

  • 代理机构11463 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人余菲

  • 地址 230088 安徽省合肥市高新区习友路3335号中国(合肥)国际智能语音产业园A区1号中试楼6楼

  • 入库时间 2022-08-22 23:59:10

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