公开/公告号CN104501949B
专利类型发明专利
公开/公告日2016-08-24
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
申请/专利号CN201410838077.6
申请日2014-12-29
分类号G01J1/56(20060101);
代理机构22210 长春菁华专利商标代理事务所;
代理人张伟
地址 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号
入库时间 2022-08-23 09:46:20
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-08-24
授权
授权
2015-05-06
实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 1/56 申请日:20141229
实质审查的生效
2015-04-08
公开
公开
机译: 光电探测器的光谱特性测量仪器,光谱特性测量方法,内部量子效率测量仪器和内部量子效率测量方法
机译: 高效,基于光电导体的圆形阵列X射线探测器,避免了与闪烁探测器相关的低效率,从而形成了适用于医学层析成像或运输安全的紧凑型装置
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