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绝对磁场测量设备及所适用的绝对磁场测量方法

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本发明提供一种绝对磁场测量设备及所适用的绝对磁场测量方法。所述设备包括：设置在超导环境中的三轴超导量子干涉器磁强计；与所述三轴超导量子干涉器磁强计处于同一磁场环境且设置在常温环境中的三轴磁通门计；数据采集处理装置，用于利用各轴向的所述超导量子干涉器磁传感器所测得的相对测量值来拟合所述磁场环境的绝对测量拟合值，以便所述磁场拟合值与所述三轴磁通门计所测得的绝对磁场值的均方误差最小，并根据所述三轴超导量子干涉器磁强计所测得的相对测量值和所拟合的各绝对测量拟合值中的直流分量来确定所述磁场环境的绝对值。本发明能够在磁场瞬间变化时，高精度的测得磁场的绝对测量值。

著录项

公开/公告号CN104730473B

专利类型发明专利
公开/公告日2017-08-29

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学院上海微系统与信息技术研究所;
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申请/专利号CN201310713552.2
发明设计人常凯;徐婷;荣亮亮;孔祥燕;谢晓明;
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申请日2013-12-20
分类号
代理机构上海光华专利事务所;
代理人高磊
地址 200050 上海市长宁区长宁路865号
入库时间 2022-08-23 09:59:37

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-12-06

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 33/035 授权公告日:20170829 终止日期:20181220 申请日:20131220

专利权的终止
2017-08-29

授权

授权
2017-08-29

授权

授权
2015-07-22

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/035 申请日:20131220

实质审查的生效
2015-07-22

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 33/035 申请日:20131220

实质审查的生效
2015-07-22

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 33/035 申请日:20131220

实质审查的生效
2015-06-24

公开

公开
2015-06-24

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公开
2015-06-24

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