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一种测量电阻率和塞贝克系数的装置及其使用方法

摘要

本发明涉及一种测量电阻率和塞贝克系数的装置及其使用方法。其技术方案是:所述装置由升降系统、水平移动系统和测量系统组成。热端电极(12)和冷端电极(24)分别固定在水平杆(9)的一端,水平杆(9)的另一端通过螺母式滑块(8)与竖直丝杆(7)连接;测量时,夹持电极(13)通过两个运动方向相互垂直的滑块将待测试样(36)水平移动至热端可伸缩式电位探针(29)和冷端可伸缩式电位探针(30)的正下方。通过高精度数字电压表(34)、高精度数字电流表(38)、第一温度表(35)和第二温度表(37)读取不同待测区域的电压、电流和温度,计算得到相应的电阻率和塞贝克系数。本发明能实现对长方体试样和圆柱体试样在不同的区域的电阻率和塞贝克系数的直接测量,测量精度高。

著录项

  • 公开/公告号CN105486925B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-01-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉科技大学;

    申请/专利号CN201510992513.X

  • 申请日2015-12-24

  • 分类号G01R27/02(20060101);G01N25/20(20060101);

  • 代理机构42222 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张火春

  • 地址 430081 湖北省武汉市青山区建设一路

  • 入库时间 2022-08-23 10:06:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-23

    授权

    授权

  • 2016-05-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/02 申请日:20151224

    实质审查的生效

  • 2016-04-13

    公开

    公开

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