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一种阵列天线近场幅相测量方法及幅相测量器

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摘要

本发明属于天线测量技术领域，提供一种阵列天线近场幅相测量方法及幅相测量器，包括：对参考天线接收的第一混合测试信号进行采样，得到第一采样信号；对探头在当前采样位置接收的第二混合测试信号进行采样，得到第二采样信号；根据第一采样信号，计算被测阵列天线的各T/R组件、各天线单元与所述参考天线之间信道的第一幅相信息；根据第二采样信号，计算被测阵列天线的各T/R组件、各天线单元与所述探头当前采样位置之间信道的第二幅相信息；根据第一幅相信息和第二幅相信息，计算被测阵列天线在当前采样位置的近场幅相信息。采用扩频信号做为阵列天线发送的校准信号，通过对校准信号的处理，提高了被测阵列天线的幅相信息测量的精确度和效率。

著录项

  • 公开/公告号CN105572487B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN201511030715.2

  • 发明设计人 林玉洁;王长红;王帅;代计博;高原;安建平;卜祥元;肖冀秋;

    申请日2015-12-31

  • 分类号

  • 代理机构北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人李相雨

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号北京理工大学

  • 入库时间 2022-08-23 10:22:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-25

    授权

    授权

  • 2018-10-16

    著录事项变更 IPC(主分类):G01R 29/10 变更前: 变更后: 申请日:20151231

    著录事项变更

  • 2018-10-16

    著录事项变更 IPC(主分类):G01R 29/10 变更前: 变更后: 申请日:20151231

    著录事项变更

  • 2016-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R29/10 申请日:20151231

    实质审查的生效

  • 2016-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R29/10 申请日:20151231

    实质审查的生效

  • 2016-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 29/10 申请日:20151231

    实质审查的生效

  • 2016-05-11

    公开

    公开

  • 2016-05-11

    公开

    公开

  • 2016-05-11

    公开

    公开

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