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安检设备、安检设备的采样装置、安检方法和采样方法

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摘要

本发明提供一种安检设备、采样装置、安检方法和采样方法。安检设备包括：采样装置，所述采样装置具有采样面，在采样面内设置用于吸入被检目标的样品颗粒的多个吸入口和用于吹出气流的多个吹扫口；预处理装置以及，检测装置。采样装置将样品输送至预处理装置，预处理装置将预处理后的样品输送至检测装置。本发明的设备可以方便地靠近被检目标实施检测，并且不会对被检目标带来损坏或不适，并且在一个被检目标采样的同时，对从前一被检目标采集的样品进行分析，效率高。

著录项

公开/公告号CN105203692B

专利类型发明专利
公开/公告日2019-03-19

原文格式PDF
申请/专利权人同方威视技术股份有限公司;清华大学;
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申请/专利号CN201510673716.2
发明设计人张清军;李元景;陈志强;朱伟平;赵自然;刘耀红;刘以农;马秋峰;何会绍;邹湘;
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申请日2015-10-16
分类号
代理机构中科专利商标代理有限责任公司;
代理人胡良均
地址 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
入库时间 2022-08-23 10:27:34

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-03-19

授权

授权
2016-01-27

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N30/88 申请日:20151016

实质审查的生效
2016-01-27

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 30/88 申请日:20151016

实质审查的生效
2015-12-30

公开

公开
2015-12-30

公开

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