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基于平面复眼和同轴结构光的三维测量系统及使用方法

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本发明公开了一种基于平面复眼和同轴结构光的三维测量系统及使用方法，用于测量被测物体，其装置包括投影仪、半透半反镜和平面复眼，所述投影仪中发出的结构光通过半透半反镜照射在被测物体上，经过被测物体反射后再次经过半透半反镜后成像在平面复眼中，所述平面复眼与计算机连通。本发明的优点在于：其利用半透半反镜建立了投影仪和平面复眼间的同轴关系，实现了全视场无阴影测量；利用平面复眼多通道间的约束关系，可实现对结构光图像的快速准确分析，并对低相位敏感区域进行校正。与传统方法相比，本发明具有全视场、无阴影、速度快、精度高等特点，在三维测量领域具有广阔的应用前景。

著录项

公开/公告号CN108303040B

专利类型发明专利
公开/公告日2019-04-09

原文格式PDF
申请/专利权人武汉理工大学;
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申请/专利号CN201810163876.6
发明设计人杨旭;陈向成;王玉伟;罗杰;雷宇;王瑜;
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申请日2018-02-27
分类号G01B11/25(20060101);
代理机构42102 湖北武汉永嘉专利代理有限公司;
代理人张惠玲
地址 430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
入库时间 2022-08-23 10:30:08

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-04-09

授权

授权
2018-08-14

实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20180227

实质审查的生效
2018-08-14

实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20180227

实质审查的生效
2018-07-20

公开

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2018-07-20

公开

公开
2018-07-20

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