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基于量子弱测量的光学测量仪以及样品折射率、旋光谱和手性分子对映体含量测量分析方法

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本发明公开了一种基于量子弱测量的光学测量仪以及样品折射率、旋光谱和手性分子对映体含量测量分析方法，本发明基于量子弱测量技术，在测量光路中，以入射光路中的前选择量子态与反射光路中的第一后选择量子态之间构造第一量子弱测量光路，以入射光路中的前选择量子态与折射光路中的第二后选择量子态之间构造第二量子弱测量光路，通过调整入射光束、反射光束和折射光束偏振态，可以使反射光束自旋分裂值和折射光束自旋分裂值扩大至少10³倍，从而实现对样品折射率极小改变、微弱手征光信号(例如旋光角)、手性分子对映体含量的测定，有望在单分子层面实现对手性药物的分析；在生物医学工程、生命科学、分析化学等多个学科领域具有重要应用价值。

著录项

公开/公告号CN108020504B

专利类型发明专利
公开/公告日2020-02-07

原文格式PDF
申请/专利权人四川大学;
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申请/专利号CN201711168236.6
发明设计人张志友;王德强;谢林果;邱晓东;罗兰;刘雄;李兆雪;
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申请日2017-11-21
分类号G01N21/01(20060101);G01N21/21(20060101);G01N21/41(20060101);
代理机构51202 成都科海专利事务有限责任公司;
代理人郭萍
地址 610065 四川省成都市武侯区一环路南一段24号
入库时间 2022-08-23 10:49:53

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-02-07

授权

授权
2018-06-05

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/01 申请日:20171121

实质审查的生效
2018-06-05

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/01 申请日:20171121

实质审查的生效
2018-05-11

公开

公开
2018-05-11

公开

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2018-05-11

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