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一种改进的Zernike矩亚像素边缘检测方法

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摘要

本发明公开了一种改进的Zernike矩亚像素边缘检测方法。本发明具体包括：一、求解Zernike矩6×6偶数模板；二、利用Sobel算子进行初定位，获取像素级边缘点；三、利用5×5模板求解Zernike矩进行二级初定位，获取亚像素级边缘点；四、分析二级初定位下亚像素边缘点所在区间；五、根据所在区间，选取偶数模板或者奇数模板求解Zernike矩进行精定位，获取更精确的亚像素级边缘位置。本发明通过判断二次初定位边缘点所在区域，根据所在区域选取奇数模板或者偶数模板求解亚像素边缘位置，提高了算法的检测精度。

著录项

  • 公开/公告号CN108537810B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量大学;

    申请/专利号CN201810371730.0

  • 发明设计人 朱维斌;刘明佩;叶树亮;

    申请日2018-04-24

  • 分类号

  • 代理机构杭州奥创知识产权代理有限公司;

  • 代理人王佳健

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号

  • 入库时间 2022-08-23 10:57:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-08

    授权

    授权

  • 2018-10-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/13 申请日:20180424

    实质审查的生效

  • 2018-09-14

    公开

    公开

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