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一种基于有限点离散频谱校正的频率测量方法

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本发明涉及信号参数测量领域，公开了一种基于有限点离散频谱校正的频率测量方法。包括：在频率测量电路中注入中频信号，记录每次注入的中频信号频点，采集每次一次校正电路的频载位置初步信息，并转换为测量的频率值；根据测量的频率值与注入的频率值，获得频率误差曲线；采用分段线性拟合算法用解析表达式拟合频率误差曲线；根据拟合后的频率误差曲线，对频载位置进行二次校正。本发明的技术方案在一次频谱校正的基础上，基于拟合的误差曲线，对频载位置进行二次校正，进一步缩小了频谱位置估计的误差范围；本发明的技术方案采用并行、流水化处理算法大大缩短了对信号载频信息的测量时间，具备对多信号的实时处理能力。

著录项

  • 公开/公告号CN109738697B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国电子科技集团公司第二十九研究所;

    申请/专利号CN201910065988.2

  • 发明设计人 曹旭源;顾杰;郑坤;尹鑫;

    申请日2019-01-24

  • 分类号G01R23/02(20060101);G01R35/00(20060101);

  • 代理机构51214 成都九鼎天元知识产权代理有限公司;

  • 代理人夏琴;钱成岑

  • 地址 610036 四川省成都市金牛区营康西路496号

  • 入库时间 2022-08-23 11:33:12

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