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摄像头模组中AA最佳下沉参数测试方法

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本发明公开了一种摄像头模组中AA最佳下沉参数测试方法，包括：S10针对一待测试镜头选定第一下沉参数，且第一下沉参数中包括多个粗验下沉参数；S20在第一穴位模具中形成第一下沉参数镜头模穴；S30根据镜头模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试；S40选定第一下沉参数中MTF测试结果最高的粗验下沉参数，S50在第二穴位模具中形成第二下沉参数镜头模穴；S60根据制备的模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试；S70选定第二下沉参数中MTF测试结果最高的细验下沉参数作为AA最佳下沉参数，完成AA最佳下沉参数的测试。相比于现有的测试方法来说，大大提高了测试速度，同时减少了需要使用到的测试模组的数量。

著录项

公开/公告号CN111711813B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-08-27

原文格式PDF
申请/专利权人重庆盛泰光电有限公司;
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申请/专利号CN202010474097.5
发明设计人黄尧;谢演军;宋凯静;林映庭;
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申请日2020-05-29
分类号H04N17/00(20060101);
代理机构36115 南昌新天下专利商标代理有限公司;
代理人施秀瑾
地址 402360 重庆市大足区双桥经开区电子信息产业园#207厂房3楼
入库时间 2022-08-23 12:22:32

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2022-02-11

专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H04N17/00 专利号:ZL2020104740975 变更事项:专利权人变更前:重庆盛泰光电有限公司变更后:盛泰光电科技股份有限公司变更事项:地址变更前:402360 重庆市大足区双桥经开区电子信息产业园#207厂房3楼变更后:402360 重庆市大足区双桥经开区电子信息产业园#207厂房3楼

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

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