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具有石墨烯散热层的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管及制备方法

摘要

本公开提供了一种具有石墨烯散热层的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管及制备方法,采用碳化硅衬底,在衬底上生长一层石墨烯材料,在石墨烯材料上生长氮化镓成核层,在成核层上生长氮化镓高阻缓冲层,在其上生长高迁移率的氮化镓沟道层,在沟道层上生长AlGaN势垒层,两个欧姆接触形成器件的源漏电极,在此之上淀积一薄层氮化硅表面钝化层,在源极和漏极之间将SiNX钝化层刻蚀出槽,然后在其后制作肖特基栅极。本公开可应用于高可靠GaN基微波功率器件领域,有利于降低GaN基HEMT的自热效应,降低界面热阻,进而提升GaN基HEMT在强电场以及高温环境下工作时热可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN108389903B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201810171210.5

  • 申请日2018-03-01

  • 分类号H01L29/778(20060101);H01L29/06(20060101);H01L21/335(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人任岩

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2022-08-23 12:24:30

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