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基于reads深度进行目的基因外显子水平缺失检测的方法及装置

摘要

本发明公开了一种基于reads深度进行目的基因外显子水平缺失检测的方法及装置。该方法包括:S1,将参考基因组划分为多个bin,将reads比对到参考基因组上,并分别计算target区域和off‑target区域的每个bin内的平均reads深度和深度的log2值;S2,合并target区域和off‑target区域reads深度统计,并将其标准化;S3,对S2中标准化的结果根据第一阈值范围划分外显子水平的缺失结果,对于标准化后得到的log2根据第二阈值进行定义目的基因的缺失状态。应用本发明的技术方案,能够对目的基因外显子水平的缺失进行检测,还可以精确的检测出目的基因是杂合缺失或者是纯合缺失。

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