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用于光学度量衡的自动波长或角度修剪的方法及光学系统

摘要

本发明描述用于光学度量衡的自动波长或角度修剪。用于光学度量衡的自动波长或角度修剪的方法的实施例包含:确定包含多个参数的结构的模型;设计并计算用于所述模型的波长相依或角度相依数据的数据集;将所述数据集存储在计算机存储器中;用处理器执行对用于所述模型的所述数据集的分析,包含:对所述数据集应用离群值检测技术及识别任何数据离群值,每一数据离群值为波长或角度;且如果在所述模型的所述数据集的所述分析中识别到任何数据离群值,那么从所述数据集移除对应于所述数据离群值的所述波长或角度以产生经修改数据集,并且将所述经修改数据集存储在所述计算机存储器中。

著录项

  • 公开/公告号CN106030282B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 科磊股份有限公司;

    申请/专利号CN201480039781.3

  • 申请日2014-06-03

  • 分类号G01N21/00(20060101);G01N21/25(20060101);G01N21/47(20060101);G01B11/00(20060101);

  • 代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人张世俊

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 12:39:37

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