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天线阵列测试电路、相控天线阵列及测试其的方法

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摘要

提供了天线阵列测试电路、相控天线阵列及测试其的方法，天线阵列测试电路可以包括：电路，其包括多个存储寄存器、测试序列生成逻辑和测试控制逻辑。存储寄存器可以针对相控天线阵列的多个天线元件中的每个天线元件来存储对应的天线元件ID。存储寄存器可以存储指示测试步骤序列的测试步骤的测试步骤ID。针对相控天线阵列的每个天线元件，测试序列生成逻辑可以使用对应的天线元件ID和测试步骤ID来确定指示测试步骤期间天线元件的测试状态的对应的测试信号。测试控制逻辑可以使相控天线阵列的每个天线元件在测试步骤期间根据对应的测试信号来配置。

著录项

  • 公开/公告号CN110873826B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 罗克韦尔柯林斯公司;

    申请/专利号CN201910084744.9

  • 发明设计人 阿德里安·A·希尔;康纳·C·麦克布莱德;

    申请日2019-01-29

  • 分类号G01R29/10(20060101);

  • 代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人王小衡;王天鹏

  • 地址 美国爱荷华州

  • 入库时间 2022-08-23 13:12:27

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