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获取单粒子现象截面与重离子线性能量转移关系的方法

摘要

本发明公开了一种获取单粒子现象截面与重离子线性能量转移关系的方法,包括:将被测器件放置在试验位置,选择能量、注量率、注量、均匀性合适的离子,开启离子束的挡板,对所述被测器件进行重离子辐射,直到预期的单粒子现象发生或达到最大的预定注量;记录所述被测器件发生单粒子现象SEP的次数,并记录所述离子的注量以及发生单粒子现象截面,关闭离子束;重新选择离子种类,重复步骤上述步骤;至少选择5种以上LET值进行试验,以所述发生单粒子现象截面为纵坐标,以LET值为横坐标,得到发生单粒子现象截面与LET的关系。本发明能够有效的对航天用的器件抗单粒子现象的能力进行检验,从而指导研制单位提高器件的抗辐射能力,提高器件的可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN100538378C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-09-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200710177960.5

  • 申请日2007-11-22

  • 分类号G01R31/00(20060101);G01R31/307(20060101);G01R31/3177(20060101);

  • 代理机构11002 北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘长威

  • 地址 100089 北京市海淀区紫竹院路69号中国兵器大厦708室

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R31/00 授权公告日:20090909 终止日期:20181122 申请日:20071122

    专利权的终止

  • 2009-09-09

    授权

    授权

  • 2009-09-09

    授权

    授权

  • 2008-06-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-04-09

    公开

    公开

  • 2008-04-09

    公开

    公开

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