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用于利用不相干的多色X射线源进行定量相衬成像和断层照相术的干涉仪

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摘要

公开了一种X射线干涉仪装置，其仅包括一个相栅(G1)和一个振幅光栅(G2)。这种干涉仪可以被用于利用标准X射线管获得相衬图像。另外，新型干涉仪可以使用由单独的子源的阵列组成的源。每个子源单独相干但是与其他子源互不相干。子源阵列可以通过将狭缝阵列、即附加的振幅光栅(GO)靠近源放置来产生。这种装置使得将这种类型的干涉仪与不提供空间或时间相干的源一起使用成为可能。因此，该装置可以和被置于检测器的较短距离处的较大源一起使用，从而导致较高的通量密度和因此较短的曝露时间。这对于要求在多个(数百个)视角下捕获物体图像的断层照相术特别重要。

著录项

公开/公告号CN101257851B

专利类型发明专利
公开/公告日2011-06-15

原文格式PDF
申请/专利权人保罗·谢勒学院;
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申请/专利号CN200680029434.8
发明设计人 C·戴维;F·普费弗;T·韦特坎普;
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申请日2006-05-30
分类号A61B6/00(20060101);G01N23/04(20060101);
代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;
代理人卢江;刘春元
地址瑞士菲利根
入库时间 2022-08-23 09:07:01

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2011-06-15

授权

授权
2008-10-29

实质审查的生效

实质审查的生效
2008-09-03

公开

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专利
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1. 用于利用不相干的多色X射线源进行定量相衬成像和断层照相术的干涉仪 [P] . 中国专利： CN101257851B . 2011.06.15
2. 用于进行相衬测量的检测装置和X射线断层摄影仪以及进行相衬测量的方法 [P] . 中国专利： CN102395877B . 2014.04.09
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