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RC-IGBT SEMICONDUCTOR DEVICE RC-IGBT AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE

机译:RC-IGBT半导体器件RC-IGBT及其制造方法

摘要

Provided are a semiconductor device capable of constraining snapback, a reverse conducting-insulated gate bipolar transistor (RC-IGBT), and a manufacturing method of the semiconductor device. According to one embodiment of the present invention, the semiconductor device (100) comprises: a semiconductor substrate (1) having first and second main surfaces; an emitter electrode (46); a gate line (49); a collector electrode (43); and first and second unit cell areas (10, 20) extended in one direction on a plane parallel to the first main surface, respectively. The semiconductor substrate (1) of the first and second unit cell areas (10, 20) comprises: an N-type drift layer (39); an N-type hole barrier layer (38); a trench electrode (13); a P-type body layer (36); an insulation film (35); an N-type field stop layer (41); and a P+ type collector layer (42). Moreover, the second unit cell area (20) has an N type cathode layer (47) inserted into the collector layer (42) and extended in one direction.
机译:提供了一种能够抑制回跳的半导体器件,反向导电绝缘栅双极晶体管(RC-IGBT)以及该半导体器件的制造方法。根据本发明的一个实施例,半导体器件(100)包括:具有第一和第二主表面的半导体衬底(1);以及具有第一主表面和第二主表面的半导体衬底。发射极(46);栅极线(49);集电极(43);第一和第二单位单元区域(10、20)分别在平行于第一主表面的平面上沿一个方向延伸。第一和第二单位单元区域(10、20)的半导体衬底(1)包括:N型漂移层(39);和N型空穴阻挡层(38);沟槽电极(13); P型体层(36);绝缘膜(35); N型场截止层(41); P +型集电极层(42)。此外,第二单位单元区域(20)具有插入到集电层(42)中并沿一个方向延伸的N型阴极层(47)。

著录项

  • 公开/公告号KR20180062379A

    专利类型

  • 公开/公告日2018-06-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RENESAS ELECTRONICS CORPORATION;

    申请/专利号KR20170159452

  • 发明设计人 YAMADA KAZUHIRO;

    申请日2017-11-27

  • 分类号H01L29/739;H01L29/423;H01L29/66;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 12:39:51

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