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TEST PATTERN EXTRACTION DEVICE, TEST PATTERN EXTRACTION METHOD, TEST PATTERN EXTRACTION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM STORING TEST PATTERN EXTRACTION PROGRAM

机译:试验物提取装置,试验物提取方法,试验物提取程序和记录介质的试验物提取程序

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test pattern extraction device capable of preventing extraction of a defective pattern.;SOLUTION: A dead area definition information reading part 4 obtains dead area definition information related to a dead area being a period including a transition time of a signal and not to be used as an expectation value with regard to logic simulation result data (waveform data). Next, according to the dead area definition information, a dead area processing part 8 sets a dead area to the waveform data. Then according to the waveform data with the dead area set, a test pattern is extracted.;SELECTED DRAWING: Figure 1;COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种能够防止缺陷图案的提取的测试图案提取装置。解决方案:死区定义信息读取部分4获得与死区有关的死区定义信息,该死区是包括过渡时间为信号,不要用作逻辑仿真结果数据(波形数据)的期望值。接下来,根据盲区定义信息,盲区处理部分8将盲区设置到波形数据。然后根据设置有盲区的波形数据提取测试图案。;选定的图纸:图1;版权:(C)2017,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2017072537A

    专利类型

  • 公开/公告日2017-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RICOH CO LTD;

    申请/专利号JP20150200903

  • 发明设计人 SHINOOKA SHINOBU;

    申请日2015-10-09

  • 分类号G01R31/28;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 14:00:06

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