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EPITAXIAL WAFER MANUFACTURING APPARATUS, AN EPITAXIAL WAFER MANUFACTURING METHOD, AND AN EPITAXIAL WAFER CAPABLE OF PROTECTING THE SURFACE OF AN EPITAXIAL THIN FILM BY A PROTECTION LAYER

机译:表皮晶圆制造装置,表皮晶圆制造方法以及能够通过保护层保护表皮薄膜表面的表皮晶圆

摘要

PURPOSE: An epitaxial wafer manufacturing apparatus, an epitaxial wafer manufacturing method, and an epitaxial wafer are provided to improve the efficiency of an epitaxial wafer process by preventing an epitaxial thin film from being contaminated due to external impurities.;CONSTITUTION: An epitaxial layer is deposited on a wafer in a first chamber(ST10). The wafer is transferred to a second chamber connected to the first chamber(ST20). A protection layer is formed on the wafer in the second chamber(ST30). The wafer is cooled in the second chamber(ST40).;COPYRIGHT KIPO 2013;[Reference numerals] (ST10) Step of depositing an epitaxial layer on a wafer in a first chamber; (ST20) Step of transferring the wafer to a second chamber; (ST30) Step of forming a protection layer on the wafer; (ST40) Step of cooling the wafer
机译:目的:提供一种外延晶片制造设备,一种外延晶片制造方法和一种外延晶片,以通过防止外延薄膜被外部杂质污染而提高外延晶片工艺的效率。沉积在第一腔室中的晶片上(ST10)。晶片被转移到连接到第一腔室的第二腔室(ST20)。在第二室中的晶片上形成保护层(ST30)。晶片在第二腔室中冷却(ST40)。COPYRIGHT KIPO 2013; [参考数字](ST10)在第一腔室中的晶片上沉积外延层的步骤; (ST20)将晶片转移到第二室的步骤; (ST30)在晶片上形成保护层的步骤; (ST40)冷却晶片的步骤

著录项

  • 公开/公告号KR20130044789A

    专利类型

  • 公开/公告日2013-05-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LG INNOTEK CO. LTD.;

    申请/专利号KR20110109020

  • 发明设计人 HWANG MIN YOUNG;

    申请日2011-10-24

  • 分类号H01L21/20;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 16:27:14

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