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Mesoporous ceramic film with low dielectric constants

机译:低介电常数的中孔陶瓷膜

摘要

A process provides a ceramic film, such as a mesoporous silica film, on a substrate, such as a silicon wafer. The process includes preparing a film-forming fluid containing a ceramic precursor, a catalyst, a surfactant and a solvent, depositing the film-forming fluid on the substrate, and removing the solvent from the film-forming fluid on the substrate to produce the ceramic film on the substrate. The ceramic film has a dielectric constant below 2.3, a halide content of less than 1 ppm and a metal content of less than 500 ppm, making it useful for current and future microelectronics applications.
机译:一种方法在诸如硅晶片的衬底上提供陶瓷膜,例如中孔二氧化硅膜。该方法包括制备包含陶瓷前体,催化剂,表面活性剂和溶剂的成膜液,将成膜液沉积在基底上,以及从基底上的成膜液中除去溶剂以制备陶瓷。在基材上的薄膜。陶瓷膜的介电常数低于2.3,卤化物含量小于1 ppm,金属含量小于500 ppm,使其可用于当前和未来的微电子应用。

著录项

  • 公开/公告号DE60036191T2

    专利类型

  • 公开/公告日2007-12-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利号DE2000636191T

  • 发明设计人

    申请日2000-12-06

  • 分类号H01L21/316;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 19:48:37

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