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Healing crystal lattice damage of silicon doped with phosphorus - by neutron irradiation involving tempering in atmos. contg. phosphorus

机译:掺磷的硅的中子辐照涉及大气回火的修复晶格损伤。续磷

摘要

Process is carried out for min. 1 hr. at above 1000 degrees C pref. for 8 hrs. at 1230 degrees C. The crystals can be pretempered in an atmos. contg. P for 4 h t min. 1000 degrees C, pref. 1100 degrees C. The process is used in semiconductor elements. The electrical characteristics of the crystals are stabilised. Pref. Si crystal wafers are tempered in a P atmos. produced by a P coating. After P diffusion for 1.5 h at 1150 degrees C the P coating is removed and tempering is carried out in the same furnace. Above 600 degrees C heating and cooling take place at max. 3 degrees C/min.
机译:进行至少1分钟的处理。 1小时在高于1000摄氏度的温度下持续8小时。可以在1230摄氏度的温度下将晶体预热。续P持续4 h t分钟。 1000摄氏度,优选1100摄氏度。该工艺用于半导体元件。晶体的电特性稳定。首选硅晶体晶片在P atmos中回火。由P涂层生产。 P在1150摄氏度下扩散1.5小时后,将P涂层去除,并在同一炉中进行回火。高于600摄氏度时,最高会进行加热和冷却。 3摄氏度/分钟。

著录项

  • 公开/公告号DE2607414A1

    专利类型

  • 公开/公告日1977-08-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AG;

    申请/专利号DE19762607414

  • 发明设计人 SCHNOELLERMANFREDDIPL.-CHEM.DR.RER.NAT.;

    申请日1976-02-24

  • 分类号B01J17/02;B01J17/34;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 00:02:15

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