杜瓦

摘要： 红外探测器杜瓦的真空可靠性对杜瓦正常工作有重大意义。若吸气剂激活后吸气能力下降,则杜瓦的长期真空可靠性存在风险。通过测试锆钒铁吸气剂在真空环境中的重复激活次数对吸气剂吸气效能的影响,获得了相应的吸气量与吸气速率变化数据。结果表明,随着重复激活次数的增加,吸气剂的饱和吸气总量无明显变化,且初始吸气速率略微提高,最后趋于稳定。实验结果可用于指导后续杜瓦封装工艺。

摘要： 罗贝尔·杜瓦诺是个地道的法国摄影家,终其一生对法国,特别是巴黎情有独钟,为世人留下超过40万张珍贵的巴黎影像。杜瓦诺的摄影被称为平民摄影,他和布列松并称为一代摄影大师。两人同以纪实摄影为主,但风格却迥然不同。杜瓦诺的影像不同于新闻纪实宏大的背景、悲怆的主题,他拍摄的都是日常、浪漫的爱和生活的诙谐乐趣。罗贝尔·杜瓦诺说,“我没有拍摄生活本来的样子,我拍摄的,都是我想要的生活。”

摘要： 杜瓦激活过程会引起探测器芯片温度过冲,导致芯片失效.通过仿真计算分析了吸气剂激活过程中产生的温度分布,研究了探测器芯片在杜瓦激活时温度升高过冲的主要传热途径,并提出了一种吸气剂挡板方案.试验结果表明,该方案可将激活过程中探测器芯片表面的最高温度由105 °C降至85 °C,解决了激活过程中探测器芯片的温度过冲问题.

摘要： 作为一个封装托卡马克的真空压力容器,杜瓦将为冷屏和磁体系统提供真空环境,同时传递来自于自身和线圈系统的载荷,在正常和非正常运行的过程中杜瓦将会遭受地震载荷、电磁力、测试压力、自身净重等载荷的冲击,其中净重和压力载荷是影响杜瓦结构安全性的关键因素,该研究首先基于无力矩理论计算了杜瓦在压力载荷、自身净重以及两者联合作用下的应力状态,获得了杜瓦的危险区域,在此基础上通过应力线性化,提取了危险区域的薄膜、弯曲和峰值应力,最后基于ASME的分析设计对各种不同的应力进行了评定,并分析了局部应力集中的原因,这对于杜瓦的设计优化以及中国聚变工程实验堆杜瓦的设计制造都具有一定的指导作用.

摘要： 红外焦平面探测器杜瓦组件的真空绝热空间内存在多种气体来源,其中最大的气体来源是材料放气.文中针对制冷型红外焦平面探测器杜瓦组件真空绝热空间内表面吸附气体的解析、体扩散、渗透放气污染问题影响制冷启动时间,限制红外探测器组件的使用寿命,设计了一种用于红外探测器杜瓦内表面钝化处理方案,基于某型杜瓦产品实现了杜瓦内壁钝化膜的制备.采用压强上升法进行放气率对比测试,并通过四极质谱仪进行了气体成分分析.放气率测试试验结果表明,钝化膜有效抑制了氢气的释放,杜瓦放气率降低一半以上.杜瓦内表面钝化膜处理方法简单有效,提升了真空寿命,具备工程化推广价值.

摘要： 随着军事、航天、航空等领域的发展,红外探测器正向超大面阵、超长线列方向发展,对红外探测器封装杜瓦提出了高可靠、长寿命和轻量化的要求.本文介绍了国内外杜瓦真空寿命的研究进展,部分杜瓦可实现10年以上的真空寿命.分析了影响红外探测器杜瓦真空寿命的因素,包括杜瓦漏气、杜瓦材料放气及气体渗漏等.总结了提高杜瓦真空寿命的手段,最后给出了红外探测器组件发展中需要注重研究的相关技术.

摘要： 空间红外相机为提高成像质量,采用脉冲管制冷机对大面阵红外探测器进行制冷和杜瓦封装,形成杜瓦组件,使探测器工作在深低温环境下.冷指与热端之间仅靠脉冲管的薄壁结构连接,径向支撑刚度偏低,无法承受卫星发射阶段的振动,需对冷指增加支撑结构;但为提高制冷效率,又需要尽量增大连接探测器的冷指与制冷机热端之间的结构热阻,以减少结构间漏热.传统的方案是在冷指与热端之间增加金属支撑柱,但该结构会带来附加的漏热,且因为连接刚度较大,会由于装配及加工误差在脉冲管焊缝处产生较大的结构应力,影响组件性能.提出一种基于玻璃纤维束的冷指支撑结构,利用玻璃纤维束的高抗拉刚度及低抗弯刚度提高冷指径向支撑刚度的同时减小其在轴向上的结构应力;同时,玻璃纤维束的超低导热系数和小截面面积可以极大的提高结构热阻,显著减小附加漏热.与传统方案相比,玻璃纤维束支撑加强结构在提高冷指支撑刚度同时,将冷指与热端之间的结构热阻增大为原来的3 730倍,解决了冷指支撑加强结构既要求抗振性能好、又要求漏热小的难题,可适用于各种类型的大面阵红外探测器的杜瓦冷指支撑结构.

摘要： 杜瓦小型化是制冷型红外探测器组件的发展方向之一,也是未来红外成像系统小型化、集成化发展的需要.由于杜瓦为探测器组件提供光、机、电接口,其小型化设计要综合考虑制冷机的制冷能力、探测性能、真空性能和系统应用等多方面因素.结合杜瓦的结构组成和工作原理,分析了小型化设计的方法及影响.该研究对杜瓦设计有较好的启发和指导作用.

摘要： 介绍了所研制的红外冷光学真空系统,并对红外冷光学真空杜瓦进行了静态真空维持试验.结果 表明,静态真空维持4h后,未烘烤除气的杜瓦内部真空度由8.6 E-3 Pa回升至12.5 Pa,光学镜组最大温升为17°C;经100°C烘烤除气48 h的杜瓦内部真空度由4.1 E-3Pa回升至2.5 Pa,光学镜组最大温升为14.9°C;经100°C烘烤除气120 h的杜瓦内部真空度由3.0 E-3 Pa回升至1.5 Pa,光学镜组最大温升为14.7°C.通过分析杜瓦漏热机理,可知杜瓦内部材料出气是导致静态真空维持能力下降、杜瓦漏热增加的根本原因.

摘要： 近年来,随着高温红外探测器技术的发展,组件的工作温度将由原来的液氮点提高到150K,对于这类探测器组件,传统的杜瓦漏热测量方法——液氮称重法将不再适用.本文经过理论分析,提出了一种可以测量非液氮温度下杜瓦漏热的方法,该测量方法简单、可靠并且能够得到任一温度点下的杜瓦漏热,因此其有巨大的潜力代替液氮法成为未来杜瓦漏热测量的主要手段.

摘要： 根据盘管换热器的尺寸和制冷机液氦的产生量确定杜瓦内筒的尺寸及结构形式,然后对杜瓦进行热负荷分析,确定其支撑结构后,求出杜瓦的日蒸发率,进而确定杜瓦的整体结构和加工要求,最后用Solidworks建模并将模型导入ANSYS中,应用有限元方法对杜瓦进行热应力分析,分析结果证明设计满足热和结构要求。

摘要： 本文简要介绍了机械制冷系统在空间制冷中的应用,并着重介绍了随着空间制冷的需要而发展起来的双光路红外探测器杜瓦的研制情况。

摘要： 本文主要对具有特殊结构的恒温晶体分析用真空隔热杜瓦的结构设计进行了介绍,并根据设计要求,对该杜瓦的真空隔热性能进行了计算,结果表明,本文的设计达到并超过了设计的指标.

摘要： 该文报导长波160元MCT红外探测器用全金属微型杜瓦的研制及达到的技术参数和使用结果

摘要： 该文介绍的焦平面用微型杜瓦采用玻璃金属混合结构，冷指内径Φ=8.28mm杜瓦总长度L=79.8mm。电极引出线54根，重量小于120g。

摘要： 介绍了玻璃钢低温下真空粘接的现状，并对粘接接头的热应力对真空性能的影响进行了深入地理论分析与实验研究。实验研究了压缩剪切加载过程及循环载荷下粘接接头真空性能的变化情况。结果表明，无磁杜瓦使用过程中反复冷却及复温过程中的所产生的循环应力载荷，是导致粘接接头真空性能下降的一个重要原因。rn 还对无磁杜瓦中常采用通常的螺纹接头、矩形槽接头、波纹滚压接头等形式的真空性能进行了实验研究，对其应力进行了分析，根据有限元模型，采用ANSYS软件进行应力计算，给出了接头的径向、轴向、环向和剪切分布。测量结果表明，螺纹粘接方式具有非常理想的真空性能，在低温冲击及高温烘烤后仍能保持很好的密封性，可以满足无磁杜瓦的技术要求。rn 计算结果表明：杜瓦发生径向及轴向收缩，杜瓦的内筒体发生了轻微的翘曲。在杜瓦内筒胶层自由端的填胶角处，存在严重的应力集中。得出粘接破坏可能最先发生杜瓦内筒下螺纹粘接接头的胶层自由端，下螺纹粘接接头内螺纹第一个和最后一个螺纹齿的齿底周围的玻璃钢也是危险区域。非线性应力计算结果比线性应力分析所得结果要大。杜瓦冷却刚开始时，下螺纹粘接接头处非常大的温度梯度，导致严重的瞬时热应力，它比稳态时高149％，最大瞬时热应力发生在冷却开始约10s的时候。

摘要： 本申请实施例公开了一种检测杜瓦瓶放散的装置及杜瓦瓶，所述装置包括：电磁感应传感器和控制电路，其中，所述电磁感应传感器，与杜瓦瓶本体连接；用于在所述杜瓦瓶本体放散气体的过程中，产生用于指示所述杜瓦瓶本体处于放散状态的电信号，并将所述电信号输出至所述控制电路；所述控制电路，与所述电磁感应传感器连接；用于接收所述电磁感应传感器发送的所述电信号；向管理平台发送所述电信号。如此，能够检测杜瓦瓶的放散。

摘要： 本发明公开了一种用于分置式杜瓦热负载测试的高兼容多功能测试杜瓦，它适用于分置式大热负载工程杜瓦的热负载测试和制冷机耦合效果的测试。一种用于分置式杜瓦热负载测试的高兼容多功能测试杜瓦包括腔体帽、引线圆盘、密封卡环和法兰座等。本发明在高兼容多功能测试杜瓦方面引入特定的结构，通过装配置换和热等量法来实现了分置式工程杜瓦静态热负载精确测试。本发明的装置和实现方法简单，测试精度高，通用性强，成本低廉。本发明同样适用于工程制冷机不同制冷温度下制冷量的测试。本发明同样也适用于工程用制冷机冷指上弹性冷链或碳纸或其它耦合介质在不同制冷温度和不同传输冷量下温度梯度的测试。

摘要： 本发明提供了一种用于快速制冷的杜瓦冷头及红外探测器杜瓦组件，所述用于快速制冷的杜瓦冷头包括冷指气缸、冷台、陶瓷基板、温度传感器、探测器芯片组、冷屏和低温滤光片，所述陶瓷基板的底面安装在冷台上、顶面进行薄膜电路金属化处理，在陶瓷基板上开设有与温度传感器形状和大小相适应的安装通孔一以及与探测器芯片组形状和大小相适应的安装通孔二，所述安装通孔二与安装通孔一连通，在陶瓷基板的非键合侧切割出适应冷屏安装的缺口。该杜瓦冷头可实现快速制冷，并能够降低探测器芯片组的热应力，采用该杜瓦冷头的红外探测器杜瓦组件的制冷和工作响应时间短，热损耗小，且使用寿命长。

摘要： 本发明提出了一种杜瓦组件、红外探测器及杜瓦组件的装配方法，根据本发明的杜瓦组件，包括：冷屏、框架和卡具，冷屏具有第一连接部，框架具有第二连接部，第一连接部与第二连接部粘接，卡具具有第一配合部和第二配合部，第一配合部位于第一连接部的远离第二连接部的一侧，第二配合部位于第二连接部的远离第一连接部的一侧。根据本发明的杜瓦组件，可以加强冷屏抗振动、冲击载荷的能力，解决目前探测器组件经过高量级振动及冲击实验后，出现冷屏脱落的问题，保证冷屏工作的可靠性。而且，卡具具有重量轻、体积小、热导率低的优势，基本不会额外增加杜瓦组件的质量与制冷负载。

摘要： 本申请实施例公开了一种检测杜瓦瓶放散的装置及杜瓦瓶，所述装置包括：电磁感应传感器和控制电路，其中，所述电磁感应传感器，与杜瓦瓶本体连接；用于在所述杜瓦瓶本体放散气体的过程中，产生用于指示所述杜瓦瓶本体处于放散状态的电信号，并将所述电信号输出至所述控制电路；所述控制电路，与所述电磁感应传感器连接；用于接收所述电磁感应传感器发送的所述电信号；向管理平台发送所述电信号。如此，能够检测杜瓦瓶的放散。

摘要： 本发明公开了一种芯片测试用变温中测杜瓦及杜瓦组件，所述杜瓦包括外壳，设置在外壳内的第一冷指、冷头，设置在外壳外的窗口组件、连接器，设置在外壳上的排气嘴，所述外壳的底部设有用于连接制冷机的法兰，所述外壳内的第一冷指由多层中空的支撑管构成，所述支撑管的内腔用于嵌套在所述制冷机的第二冷指外。本发明的中测杜瓦采能够实现了低温芯片的测试。

摘要： 本发明公开了一种用于分置式杜瓦热负载测试的高兼容多功能测试杜瓦，它适用于分置式大热负载工程杜瓦的热负载测试和制冷机耦合效果的测试。一种用于分置式杜瓦热负载测试的高兼容多功能测试杜瓦包括腔体帽、引线圆盘、密封卡环和法兰座等。本发明在高兼容多功能测试杜瓦方面引入特定的结构，通过装配置换和热等量法来实现了分置式工程杜瓦静态热负载精确测试。本发明的装置和实现方法简单，测试精度高，通用性强，成本低廉。本发明同样适用于工程制冷机不同制冷温度下制冷量的测试。本发明同样也适用于工程用制冷机冷指上弹性冷链或碳纸或其它耦合介质在不同制冷温度和不同传输冷量下温度梯度的测试。

摘要： 本实用新型公开了一种用于红外探测器的杜瓦组件、红外探测器杜瓦装置。杜瓦组件包括：杜瓦外壳，杜瓦外壳包括外壳顶部；杜瓦内胆，置于杜瓦外壳内，杜瓦外壳的内侧与杜瓦内胆之间具有间隙，杜瓦内胆具有内胆本体和瓶颈部，瓶颈部位于内胆本体的上方，瓶颈部与外壳顶部的第一开孔密封连接；真空保持装置，设于杜瓦外壳，与外壳顶部的第二开孔密封连接，杜瓦内胆与杜瓦外壳之间围成的空间为密封空间且处于真空状态，红外探测器组件被配置为封装在所述密封空间内。通过密封连接降低了漏率，提高了红外探测器杜瓦装置的真空寿命。低冷损结构设计有效地降低了杜瓦组件工作状态的冷损，有效提高了红外探测器杜瓦组件的持续工作时间。

摘要： 本实用新型提供一种液氮杜瓦内胆支撑环，其包括有内胆支撑部、罐体支撑部和隔热部，所述内胆支撑部贴合于液氮杜瓦内的内胆的外侧表面。所述罐体支撑部支撑于液氮杜瓦的罐体的内侧表面，所述内胆支撑部和所述罐体支撑部之间具有间隙。所述隔热部设在所述内胆支撑部和所述罐体支撑部之间，所述隔热部通过第一连接部连接所述内胆支撑部，所述隔热部通过第二连接部连接所述罐体支撑部，所述第一连接部和所述第二连接部交错设置。热量需要依次经过第一连接部，隔热部，第二连接部才能传导出去，延长的热量传递的距离，热量更不容易通过支撑环传导，降低了漏热缺陷。

摘要： 本实用新型实施例公开了一种检测杜瓦瓶放散的装置及杜瓦瓶，所述装置包括：电磁感应传感器和控制电路，其中，所述电磁感应传感器，与杜瓦瓶本体连接；用于在所述杜瓦瓶本体放散气体的过程中，产生用于指示所述杜瓦瓶本体处于放散状态的电信号，并将所述电信号输出至所述控制电路；所述控制电路，用于接收所述电磁感应传感器发送的所述电信号；以无线通信方式，向管理平台发送所述电信号。如此，能够检测杜瓦瓶的放散。