锑化铟
锑化铟的相关文献在1986年到2022年内共计270篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、自动化技术、计算机技术、物理学
等领域,其中期刊论文157篇、会议论文19篇、专利文献566342篇;相关期刊61种,包括现代材料动态、仪表技术与传感器、航空兵器等;
相关会议16种,包括2011全国光电子与量子电子学技术大会、广东省仪器仪表学会第一次学术会议、2007年红外探测器及其在系统中的应用学术交流会等;锑化铟的相关文献由481位作者贡献,包括黄钊洪、刘世能、太云见等。
锑化铟—发文量
专利文献>
论文:566342篇
占比:99.97%
总计:566518篇
锑化铟
-研究学者
- 黄钊洪
- 刘世能
- 太云见
- 黄晖
- 叶薇
- 李忠良
- 邱国臣
- 亢喆
- 何雯瑾
- 李海燕
- 赵超
- 陈建才
- 龚晓霞
- 刘玉岭
- 程波
- 赵鹏
- 李晖
- 杨文运
- 秦玉伟
- 程鹏
- 于成民
- 吕衍秋
- 孟庆端
- 李增寿
- 肖钰
- 陈元瑞
- 于凯
- 姚娘娟
- 张立文
- 王健
- 王娟
- 王志芳
- 王燕华
- 苏玉辉
- 褚君浩
- 赵建忠
- 霍晓青
- 黄志明
- 付安英
- 何志达
- 关杰
- 冯桂华
- 刘佩瑶
- 刘家璐
- 刘运连
- 司俊杰
- 吴伟
- 吴闽
- 周炜
- 孙仁涛
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周伟佳;
龚晓霞;
陈冬琼;
肖婷婷;
尚发兰;
杨文运
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摘要:
采用原子层沉积技术制备Al_(2)O_(3)薄膜作为InSb材料介电层,制备了MIS器件,研究了金属化后不同退火温度对界面特性的影响。利用C-V测试表征了MIS(metal-insulator-semiconductor)器件的界面特性,结果表明Al_(2)O_(3)介电层引入了表面固定正电荷,200°C和300°C退火处理可有效减小慢界面态密度,利用Terman法得到了禁带界面态密度分布,表明200°C退火可使禁带中央和导带附近的界面态密度显著减小。同时文章对C-V曲线滞回的原因进行了分析,认为Al_(2)O_(3)介电层中离界面较近的负体陷阱电荷是主要影响因素。实验证明了200°C~300°C的退火处理可有效改善InSb/Al_(2)O_(3)界面质量。
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陈建才;
何雯瑾;
刘世能;
叶薇;
何燕;
杨善良;
袁俊;
王懿;
太云见;
李立华;
黄晖
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摘要:
锑化铟(InSb)是Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体,在3~5μm波段具有很高的量子效率,采用Czochralski直拉法技术完成大直径锑化铟晶体生长,获得了位错密度较低且沿晶体分布较均匀的4英寸InSb晶体。InSb晶片位错密度小于80 cm^(-2),77 K的霍尔测量表明载流子浓度和迁移率分布均匀,锑化铟晶片适用于新一代高性能超大规模阵列焦平面探测器。
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于启斋
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摘要:
林兰英,1928年2月7日出生于福建福田,是半导体材料科学家,中国科学院院士,中国科学院半导体研究所研究员。在锗单晶、硅单晶、砷化镓单晶和高纯锑化铟单晶和制备及性质等研究方面获得成果,其中砷化镓气相和液相外延单晶的纯度及电子迁移率,均曾达到国际先进水平。
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肖钰;
李家发;
王淑艳;
曹凌霞;
李海燕
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摘要:
经传统的背面减薄工艺处理后,锑化铟焦平面器件的表面上经常会有细微划道;采用传统的表面清洗方式时也容易对器件表面造成划道,导致工艺重复性差.因此,当器件经过背面减薄后,利用腐蚀液去除划道,并采用基于石油醚和无水乙醇的非接触式清洗方法,有效降低了器件表面产生划道的几率,同时避免了由于表面腐蚀速率不均匀导致测试时部分区域电平较高、在测试图像上出现亮斑等情况;另外还提高了工艺的重复性,使锑化铟器件的红外成像均匀且没有划道,从而提高了该器件的成品率.
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董涛;
赵超;
柏伟;
申晨;
吴卿
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摘要:
锑化铟焦平面探测器是红外成像系统的重要组成部分,对红外成像的成本和性能都有重要影响.锑化铟晶片的质量及均匀性决定了探测器的性能.通过霍尔效应测试、低温探针法以及微波光电导衰退法研究了锑化铟晶片的电学性能均匀性.结果 表明,所制备的锑化铟晶片的载流子浓度和电子迁移率的面分布较均匀,但低温电阻率以及少子寿命的分布呈现较小的非均匀性变化,这主要与锑化铟生长过程中的杂质分凝有关.
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亢喆;
曹海娜;
邱国臣;
肖钰
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摘要:
设计了一种专门用于锑化铟红外探测器器件工艺中钝化前的脱水处理工艺技术.包含脱水、干燥和表面处理等一系列的工艺步骤,可作为基于锑化铟材料的焦平面红外探测器器件中钝化前的标准化处理工艺.针对脱水工艺设计中遇到的问题对操作方式进行了重新设计和改进,避免了工艺引入杂质和离子对器件性能造成影响.改进后的工艺在脱水处理后采用高温烘干与吹扫相结合的方式对芯片进行干燥,并加入预处理工艺对脱水后钝化前的芯片进行表面处理,从而使锑化铟材料红外器件工艺适应各种环境湿度的工艺条件.
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吴闽;
黄钊洪
- 《第二届长三角地区传感技术学术交流会》
| 2006年
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摘要:
本文介绍了锑化铟磁阻型光电传感器的结构及工作原理,并对锑化铟磁阻型光电传感器的输出特性进行了研究.结果表明:磁阻型光电传感器的中心频率为50Hz,通频带为46Hz~55Hz,即通频带宽度为9Hz,经计算,可得其品质因数Q为5.56,若按可调式高品质有源滤波放大电路设计理论获得的计算值,该滤波电路的中心频率为50Hz,品质因数为8.01,带宽为6.24Hz,故理论值与实际所测的频率特性有些误差.
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吴闽;
黄钊洪
- 《二〇〇六年全国光电技术学术交流会》
| 2006年
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摘要:
介绍了锑化铟磁阻型光电传感器的结构及工作原理,并对锑化铟磁阻型光电传感器的输出特性进行了研究;随着间隙由0mm增至5mm,放大后的光电传感器输出电压峰峰值由3V多急剧下降至500mV以下;若使输入光脉冲电压的频率保持50Hz不变,改变红外发光二极管输入光脉冲电压(变化范围Vpp为3.8~5.0V),测量磁阻型光电传感器输出电压峰值Vpp随输入光脉冲电压的增加按指数规律增加;磁阻型光电传感器的中心频率为50Hz,通频带为46~55Hz,即通频带宽度为9Hz,可得其品质因数Q为5.56。
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罗春娅
- 《全国第十六届红外加热暨红外医学发展研讨会》
| 2017年
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摘要:
自从超材料吸收器的概念从2008年在《Physical Review Letters》上报道以来,其优越的吸收特性和广阔的应用前景得到了广大科研工作者的注意.但是由于一些条件的调制,使得红外和太赫兹频段的吸收性都固定在特定频段.为了满足在多频段可调谐的器件,本文研究了锑化铟在太赫兹频段的特性.
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尚林涛;
周朋;
刘铭
- 《第十二届全国分子束外延学术会议》
| 2017年
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摘要:
InSb材料是波长在3-5μm中波红外波段具有重要研究意义的材料之一.本文以本单位内部生产的InSb(100)衬底为基础,通过摸索InSb(100)衬底的脱氧机制、生长温度和Ⅴ/Ⅲ束流比,获得了高质量的InSb同质外延样品,1.5μm样品的表面粗糙度RMS≈0.3nm(10μm×10μm),FWHM≈7arcsec;采用相同的生长温度和V/III束流比,并且采用原子层外延缓冲层的方法在GaAs(100)衬底上异质外延本征非掺杂的InSb层,获得了较高质量的InSb本征异质外延样品,2μm样品的室温电子迁移率高达6.06×104cm2V-1s-1,FWHM<190arcsec.InSb材料的同质和异质外延优化生长可为高温工作掺铝InSb器件结构的优化生长提供重要参考依据.
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尚林涛;
周朋;
刘铭
- 《第十二届全国分子束外延学术会议》
| 2017年
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摘要:
InSb材料是波长在3-5μm中波红外波段具有重要研究意义的材料之一.本文以本单位内部生产的InSb(100)衬底为基础,通过摸索InSb(100)衬底的脱氧机制、生长温度和Ⅴ/Ⅲ束流比,获得了高质量的InSb同质外延样品,1.5μm样品的表面粗糙度RMS≈0.3nm(10μm×10μm),FWHM≈7arcsec;采用相同的生长温度和V/III束流比,并且采用原子层外延缓冲层的方法在GaAs(100)衬底上异质外延本征非掺杂的InSb层,获得了较高质量的InSb本征异质外延样品,2μm样品的室温电子迁移率高达6.06×104cm2V-1s-1,FWHM<190arcsec.InSb材料的同质和异质外延优化生长可为高温工作掺铝InSb器件结构的优化生长提供重要参考依据.