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夹卷层厚度参数化的物理模拟研究

摘要

对于归一化夹卷层厚度△h/z1,已有的参数化方案是建立△h/z1与理查森Ri之间的指数对应关系。对于理查森Ri的具体形式和Ri所满足的幂次律,不同的研究给出的结果有很大的差异。本文利用对流水槽实验模拟了大气对流边界层的发展过程,获得光斑和温度廓线数据,分析夹卷层的时空演变特征。对常用的两种参数化△h/z1方案,即Ri*方案和RiE方案,利用对流水槽实验数据进行了重新拟合.对比分析表明,Ri*方案拟合的对于△h/z1为0.2-0.5时基本符合,而对于太小的△h/z1(<0.1)和太大的△h/z1(>0.5)则没有很好的指数关系;RiE方案相对于Ri*方案,拟合的结果有一定的改善,对于比较大的△h/z1(>0.5)的情况,拟合的结果也很好,但对于小△h/z1(<0.1),数据发散得比较严重。这反应出夹卷过程的复杂性,夹卷过程的物理属性有待进一步的研究,以获得更好的参数化公式。

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