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共振隧穿二极管Ⅰ-Ⅴ特性的一致性测试与研究

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共振隧穿二极管(RTD)具有类似于硅的压阻特性.为了定量表达RTD的压阻特性,对其Ⅰ-Ⅴ特性一致性的研究显得十分必要.文中设计一个恒温、恒压实验测试系统,测试同一个RTD结构在不同时间的Ⅰ-Ⅴ特性.实验结果表明,RTD结构的电阻在不同时间的最大相对漂移量小于3％.随后测试仪器的测量误差,发现其中1％的相对漂移量由测试仪器造成.

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来源
《第四届全国信息获取与处理学术会议》|2006年|1189-1191|共3页
会议地点贵阳、沈阳
作者
毛海央; 张文栋; 熊继军; 薛晨阳;
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作者单位

中国仪器仪表学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TN312.2;
关键词
共振隧穿二极管; 压阻特性; 漂移量;

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