快速检测I<,DDQ>

摘要

该文简述了利用现有LSI测试系统资源,外加极少量的硬件,实现CMOS电路I〈,DDQ〉的快速检测,使测量DUT每一个结点逻辑电平“1”和“0”状态下的I〈,DDQ〉成为可能。

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