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朱天成;
中国计算机学会;
芯片; 封装集成; 可靠性; 无源器件; 散热铜块; 工作温度;
机译:使用薄或无芯基板的裸芯片FCBGA封装的制造权衡:利用裸芯片FCBGA的封装设计解决方案,可最大化热性能,提高封装可靠性并消除翘曲故障
机译:倒装芯片封装中超低$ k $互连的结构优化改善了芯片-封装相互作用和可靠性
机译:芯片封装相互作用和封装级别可靠性的建模失败模式
机译:芯片封装和加速热循环过程中芯片键合芯片封装的机械可靠性评估
机译:芯片封装相互作用(CPI)及其对倒装芯片封装可靠性的影响。
机译:激光诱导的单芯片倒装芯片封装的正向转移
机译:用于高密度封装的三维芯片集成技术
机译:辐射加固多IC芯片封装的制造方法
机译:晶片封装上的晶片级芯片,降低了安装高度,改善了焊点的可靠性,封装上的芯片及其制造方法,能够通过芯片上的芯片在一个封装上安装多个半导体芯片
机译:芯片封装结构及其制造方法,可有效降低制造成本,提高芯片封装结构的良率和可靠性
机译:能够提高半导体芯片与封装基板之间的连接可靠性的倒装芯片封装及其制造方法
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