Centro de Componentes Semicondutores (CCS) -UNICAMP, C. P. 6061, CEP 13083-970, Campinas -SP;
机译:开发与方向相关的各向异性蚀刻模拟系统MICROCAD
机译:连续细胞自动机各向异性刻蚀过程中晶体硅的取向依赖性表面形态
机译:异丙醇浓度及蚀刻时间对低电阻率晶体晶片湿化学各向异性蚀刻的影响
机译:取向依赖性各向异性刻蚀过程中硅的二维刻蚀轮廓的仿真
机译:硅/硅锗化物异质结构的各向异性碳氟化合物等离子体刻蚀和等离子体刻蚀引起的侧壁损伤
机译:异丙醇浓度和刻蚀时间对低电阻晶体硅晶片湿化学各向异性刻蚀的影响
机译:P-Silicon晶片的碱各向异性化学蚀刻