Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University, Katahira 2-1-1, Aoba-ku, Sendai, Japan;
antiphase boundary; gas-source molecular beam epitaxy; low-temperature interfacial buffer layer; monomethylsilane;
机译:使用外延γ-Al_2O_3(001)缓冲层在Si衬底上外延生长Pt(001)薄膜
机译:反应磁控溅射以3C-SiC为缓冲层在Si衬底上沉积AlN薄膜
机译:反应磁控溅射以3C-SiC为缓冲层在Si衬底上沉积AlN薄膜
机译:在具有3C-SiC缓冲层的Si(001)边界衬底上生长的半极性氮化物
机译:通过溅射沉积在硅(001)衬底上沉积的金薄膜的表面形态。
机译:GaAs(001)上生长的高质量100 nm厚InSb膜具有InxAl1-xSb连续渐变缓冲层的基板
机译:3C-SiC缓冲层对RF溅射在Si(111)衬底上形成氧化锌膜的影响