• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文会议>IEEE East-West Design Test Symposium >Hybrid history-based test overlapping to reduce test application time
【24h】

Hybrid history-based test overlapping to reduce test application time

机译：基于混合历史记录的测试重叠，以减少测试应用时间

获取原文
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

In spite of significant efforts in circuit testing, sequential circuit testing has remained a challenging problem. Existing test solutions like scan methods are proposed to facilitate Automatic Test Pattern Generation (ATPG), however, these methods suffer from large area and delay overhead. In this paper, a new hybrid history-based test overlapping method is presented to reduce test time in scan-based sequential circuits while almost no extra hardware overhead is imposed to the circuit. Experimental results show 30% reduction on average test time in comparison with existing works.
机译：尽管电路测试中的重大努力，顺序电路测试仍然是一个具有挑战性的问题。提出了现有的测试解决方案，如扫描方法，以促进自动测试模式生成（ATPG），然而，这些方法遭受大面积和延迟开销。在本文中，提出了一种新的基于混合历史的测试重叠方法，以减少基于扫描的顺序电路中的测试时间，同时几乎没有额外的硬件开销施加到电路。实验结果表明，与现有工程相比，平均测试时间降低了30％。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号