Some Applications of the Trace Formula and the Relative Trace Formula

机译：痕量公式的一些应用和相对痕量公式

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The trace formula is a major tool in the theory of automorphic forms. It wasconceived by Selberg and extensively developed by Arthur. Among other thingsit is applicable to the study of spectral asymptotics as well as to (special cases of)Langlands functoriality conjectures. An important variant invented by Jacquet -the relative trace formula – is used to study period integrals and invariantfunctionals.

机译：痕量公式是自同质形式理论的主要工具。它由Selberg并由亚瑟广泛开发。尤其是适用于光谱渐近学的研究以及（特殊情况）兰兰斯函件猜测。用jacquet发明的一个重要变体 - 相对跟踪公式 - 用于研究期间积分和不变障碍。

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来源
《International Congress of Mathematicians》|2010年||共19页
会议地点
作者
Erez M. Lapid;
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作者单位

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种
中图分类 O1-532;
关键词
Trace formula;

机译：痕量公式;

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机译：跟踪公式，用于将噪声校正为跟踪公式-艺术。没有。 012104
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