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【24h】

Interferometric lithography at 46.9 nm

机译:46.9 nm的干涉光刻

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摘要

We present the first results of nano-patterning in poly-methyl methacrylate (PMMA) photo-resist using a 46.9 nm tabletop extreme ultraviolet (EUV) laser. As a proof of principle, we recorded a Fresnel diffraction pattern of a copper mesh with 19 μm square holes. Results of ongoing interference experiments will also be presented.
机译:我们介绍了使用46.9 nm台式极紫外(EUV)激光在聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)光致抗蚀剂中进行纳米构图的第一个结果。作为原理上的证明,我们记录了具有19μm方孔的铜网的菲涅耳衍射图。还将进行正在进行的干扰实验的结果。

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