Department of Electronic Engineering, Hanyang University Seoul 133-791, Korea;
Electronic Department, Doowon Institute of Technology Juksan, Ansung 456-890, Korea;
Department of Electronic Engineering, Hanyang University Seoul 133-791, Korea;
机译:Cz-硅中氧气沉淀物中铁再溶解的模拟及其对吸杂效率的影响
机译:高能X射线衍射原位研究12“ CZ硅晶体的径向氧沉淀
机译:声子散射与Cz硅中的氧沉淀有关
机译:CZ硅氧沉淀的建模与仿真
机译:硅氧沉淀的定量建模
机译:注入碳离子的Cz和FZ硅晶体中氧配合物的结构和电学性质
机译:CZ硅中氧沉淀的建模与模拟
机译:碳浓度对Cz si中氧沉淀的影响