声明
第1章 绪论
1.1 集成电路发展概述
1.2 逻辑电路可靠性面临的挑战
1.3 本文的主要工作及组织结构
第2章 逻辑电路可靠性及其评估方法
2.1 逻辑电路可靠性
2.2 可靠性评估方法
2.3 Monte Carlo方法介绍
2.4 小结
第3章 基于经验值的Monte Carlo方法
3.1 方法介绍
3.2 方法设计
3.3 方法实现
3.4 实验与分析
第4章 基于自适应策略的Monte Carlo方法
4.1 方法介绍
4.2 方法设计
4.3 方法实现
4.4 实验与分析
第5章 结论与展望
5.1 结论
5.2 展望
参考文献
致谢