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刘玉林; 汪心想; 孟新志; 张慧敏; 张羡; 李志刚;
河南省化工研究所有限责任公司;
河南郑州450052;
半导体; 硅片; 溶液清洗; 清洗技术;
机译:EDTA基碱性清洁溶液对CMP铜互连后CMP清洗中的TAZ去除的影响
机译:铜的化学溶液/ Low-k:铜的干法蚀刻残留去除溶液/ Low-k / CMP后的清洗溶液
机译:精密清洗技术:关于CMP后的清洗技术
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机译:开发用于a-SiC和锰CMP的配方以及CMP后的钴清洗。
机译:超薄硅片在儿童单侧创伤后颞下颌关节强直的管理中:传统技术的一个不错的选择
机译:不同清洗液和刷洗机运动学对后铜Cmp清洗过程摩擦性能的影响
机译:硅片超声波清洗的研究进展
机译:CMP后去除硅片中金属杂质的化学溶液及硅片清洗方法
机译:清洗半导体衬底,特别是硅片的方法是先产生疏水表面,然后再用有机氮碱水溶液清洗,得到亲水表面并漂洗。
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