首页> 中文期刊> 《电子产品世界》 >军用测量/测试设备将向通用、灵活方向发展

军用测量/测试设备将向通用、灵活方向发展

         

摘要

目前,芯片与总线的尺寸越来越小、传输速度越来越快,这给军事电子系统与装备测试带来不小的麻烦。为了与最新的亚微米电路技术保持同步,测试与测量设备技术面临着严峻的挑战。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号