集成电路测试数据减少技术综述

机译：测试数据压缩，使用挥之不去的组件减少技术进行系统芯片应用

机译：通过禁用扫描链技术减少测试数据量和测试应用时间

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机译：使用安全捕获技术减少多时钟设计中的测试数据量减少

机译：使用测试数据压缩和内置的自检功能来减少片上系统集成电路的测试数据量。

机译：植入式神经技术：集成电路神经放大器综述

机译：集成电路概念：线优化技术减少高级技术节点中的互连延迟

机译：大气流化床热电联产空气加热器实验：测试数据分析和材料评估，第1卷。任务8：观察，减少和检查测试数据。

机译：自动生成测试数据的方法包括提供对象模型，该对象模型形成用于测试数据的统计修改和读取顺序输入-测试数据流的技术框架

机译：集成电路卡系统具有主机，当存储卡的处理时间超过参考时间时，主机将测试数据传输到存储卡，以便存储卡计算从主机传输的测试数据

机译：用于大规模集成电路的评估系统使用CAD逻辑处理和测试电路布局数据来生成数据，以便与来自测试数据文件的测试数据输入产生的数据进行比较