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朱永丹; 杨建平; 李兴鳌; 左安友; 袁作彬;
湖北民族学院信息工程学院;
湖北民族学院理学院;
集成电路制造; 等离子体蚀刻; 蚀刻率; 选择比;
机译:在基于HBr / O2的高密度等离子体的多晶硅/氧化物蚀刻中,HBr和氧对蚀刻选择性和蚀刻后轮廓的作用的研究
机译:电感耦合等离子体蚀刻反应器中氯等离子体和多晶硅蚀刻的表征
机译:在使用SF6,C4F8和O-2等离子体蚀刻多晶硅和碳氟化合物聚合物期间,底部和侧壁蚀刻速率对偏置电压和源功率的依赖性
机译:使用光致抗蚀剂作为蚀刻掩模,通过8 / SPL mu / m Si深沟槽的反应离子蚀刻2 / spl mu / m×8 / spm mu / m si深沟
机译:使用氯气蚀刻多晶硅的电感耦合等离子体的计算机模拟。
机译:基于HBr / O的重掺杂多晶硅反应离子蚀刻的研究
机译:等离子多晶硅氯蚀刻等离子体表面动力学研究及特征剖面演化模拟
机译:用于监测氯 - 氦等离子体中多晶硅的等离子体蚀刻期间的蚀刻均匀性的光学诊断仪器。
机译:用于在等离子体蚀刻室内蚀刻多晶硅栅极结构的方式,用于在等离子体蚀刻室内部蚀刻多晶硅栅极结构,以及
机译:在例如深沟槽型电容器的制造期间在半导体衬底中的深沟槽的制造利用包括溴化氢,氟化氮,氯气和氦/氧气混合物的等离子体蚀刻组合物。
机译:用于半导体器件制造的多晶硅膜的蚀刻气体组成以及使用该蚀刻气体组成的等离子体蚀刻方法
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