首页> 中文期刊> 《测控技术》 >近红外光谱过程分析与控制技术融合及展望

近红外光谱过程分析与控制技术融合及展望

         

摘要

以近红外(NIR)光谱为代表的新型过程分析技术(PAT)近年来在流程行业得到越来越多的应用.PAT是以化学计量学为基础,并采用自动化分析仪器的生产过程质量分析新方法,与传统化验分析技术相比,PAT具有测量速度快、准确度高等优点.介绍了NIR光谱的PAT原理,归纳了NIR光谱分析仪器技术特点及应用场合,阐述了NIR光谱预处理、建立校正模型等技术.进一步地,介绍PAT与过程控制技术(PCT)的融合,重点分析了PAT在完善先进控制技术及实时优化中所起的重要作用.最后,对PAT及PCT在流程智能制造领域的融合发展进行了展望.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号